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EMI抑制器件在實際應用中遇到的常見問題

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EMI抑制器件在實際應用中遇到的常見問題

使用EMI 抑制器件可以有效的降低設備的對外輻射, 滿足 EMC 相關標準要求,也是解決 EMC 問題的一個好方法。但是電容, 電感,共模厄流圈,接口濾波器,磁珠等 EMI 抑制器件對于設備的功能沒有本質上的影響,也就是說設備有和沒有這些器件, 對設備的功能設計來說,沒有多大影響。 這就導致了一個問題:什么時候什么地方該用什么抑制器件?


產品設計人員在設計階段即使考慮了 EMC,但是他也并不知道這個電路可能會引起多大的對外干擾,因此不可避免的存在使用不合理的問題。產品在設計出來以后, 經過測試,可以判斷哪個地方需要增加使用 EMI 抑制器件,然后再進行改板重新設計。 這樣做的結果是導致了產品設計周期過長,增加了設計成本。要合理的使用 EMI 抑制器件需要長期的 MEC 設計經驗。

 

器件導致的EMI 案例分析

 

由于器件原因導致的輻射發(fā)射,通常是由于濾波器件不能有效遏制內部的干擾造成的。這種情況下用近場探頭比較容易的定位出問題的所在。還有一種情況就是所選接口器件本身就是輻射源,譬如光電轉換器。這兩種情況是器件原因導致輻射發(fā)射超標較常見的情況。

 

IC 器件導致的輻射發(fā)射情況在測試中也可以定位出來,但往往與 PCB 上的布局布線或者匹配有關。 輻射發(fā)射測試是對系統(tǒng)進行的遠場測試,我們可以通過接收到的頻譜圖進行分析輻射源的性質,然后通過切斷 PCB 上走線的方法來判斷哪個器件是輻射源;找到輻射源以后,再分析走線上的信號質量。解決這一類問題,往往需要更換匹配或者重新布線,改善信號質量或者將產生干擾的走線埋到內層。


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| 發(fā)布時間:2018.05.25    來源:電源適配器廠家
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